通過(guò)比較正常樣品與問(wèn)題樣品真空信息的變化，可以幫忙我們判斷是否由于CAD GAS的異常導(dǎo)致了TOF分辨率的下降；或者是因?yàn)殡x子入口（Orifice）堵導(dǎo)致了靈敏度的下降。本文檔介紹了如何利用OS軟件，打開已采集完成的數(shù)據(jù)，查看之前采集時(shí)的真空狀態(tài)。

打開一個(gè)使用相同質(zhì)譜方法采集的信號(hào)正常的歷史數(shù)據(jù)。

點(diǎn)擊show后選擇Sample Information，打開樣品數(shù)據(jù)信息。

從Sample Info 里MS Device Details: Start of Acquisition里找到樣品采集時(shí)質(zhì)譜的真空狀態(tài)。